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干扰电压的大小不但与共模瞬态干扰的电流大小有关2019/7/11 21:11:00
共模干扰电流流过地阻抗z。FQB24AN06L两端就会产生压降〃cM≈zOⅤJc对。该压降对共模干扰电流流过地阻抗时产生的压降于集成电路IC2来说相当于在IC1传递给它的电压信号σs上又叠加了一...[全文]
 同时具备能力转移和空穴传递过程的高效三元共混聚合物太阳电池2019/7/10 22:07:34
同时具备能力转移和空穴传递过程的高效三元共混聚合物太阳电池将具有互补吸收光谱的两种材料整合到一个电池中被视为是提高有机太阳电池能量转化效率的一个有效方法。H5PS5162FFR-Y...[全文]
​测试技术的发展趋势2019/7/10 21:58:00
测试技术的发展趋势外壳的发展围绕着两个方面进行。一是封装形式和封装密度,随着小型化、多引脚、H5PS5162FFR-S5C高密高可靠、耐恶劣环境、长寿命的需求提高,外壳从最初的单列...[全文]
​磁性材料2019/7/9 20:27:55
磁性材料磁性材料的测试标准主要有GB/T3217-19呢、GWT9633―⒛12、GJB1912~%、SJ20805―⒛01、sJ20%6一⒛06等。GB/T3217-19呢主要规...[全文]
外壳引线电阻失效2019/7/9 20:25:25
外壳引线电阻失效(1)当产品对引线牢固性有要求时,增加配方瓷粉的比例可提高金属化结合强度,K4B1G1646G-BQH9但同时使引线电阻加大,造成引线电阻超差。(2)...[全文]
混合集成电路封装外壳2019/7/9 20:11:51
第二类为混合集成电路封装外壳,依据GJB2440A-2006《混合集成电路外壳通用规范》K4B1G1646E-HQH9进行试验,其检验项目包括外部目检、物理尺寸、密封(细检漏、粗检漏)、温度循环...[全文]
​外壳测试参数2019/7/9 20:04:02
外壳测试参数K4B1G1646E-HCF7在电子领域,封装外壳可靠性的考核依据有GJB14⒛B―9O11《半导体集成电路外壳通用规范》、GJB2狃0A―⒛∝《混合集成电路外壳通用规...[全文]
电子功能材料2019/7/9 19:58:56
电子功能材料半导体材料是一类具有半导体性能(即导电能力介于导体和绝缘体之间,电阻率约为1mΩ・cm~1GΩ・cm)的、可用来制造半导体器件和集成电路的电...[全文]
光窗管帽外壳按封装形式不同2019/7/8 21:42:06
光窗管帽外壳按封装形式不同,可分为圆形平面光窗、透镜光窗和矩形平面光窗三种类型。H5TQ2G63BFR-TEC圆形平面光窗外壳是通过光学材料经切、滚棒、磨、抛加工成光学平面,然后用高温局部加热的...[全文]
每个用于测量的检测仪器都有其确定的测量范围2019/7/7 19:03:01
满量程输出每个用于测量的检测仪器都有其确定的测量范围,它是检测仪器按规定的精度对被测变量进行测量的允许范围。压阻式压力传感器可测量压力范围的最小值和最大值分别称为测量下限和测量上限...[全文]
石英晶体谐振器2019/7/7 18:53:33
石英晶体谐振器石英晶体在压力作用下产生形变,同时产生电极化,其极化强度与压力成正比,这种现象就称为“正压电效应”。F20LC30反之,在电场作用下,晶体产生形变,其形变大小与电场强...[全文]
为连接器常规电性能检验技术研究电子质量2019/7/7 18:42:54
为连接器常规电性能检验技术研究电子质量.⒛01(6、7).GB″25022-2010机车车辆车端电气通信(控制)连接器,中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局.中国国家标准化管理委...[全文]
​远端串扰2019/7/6 20:51:37
远端串扰将高速差分连接器中的2对插合的差分接触件按图1⒈38(b)所示进行连接,输入不变,未插合的差分信号对末端均需端接终端负载进行匹配。FAN301ULMY将同一个接触件与输入差...[全文]
​串扰测试2019/7/6 20:49:58
串扰测试近端串扰FAN301HLMY将高速差分连接器中的2对插合的差分接触件按图11-38(a)所示进行连接,未插合的差分接触对末端均需端接终端负载进行匹配。设置测试...[全文]
​动作和释放时间或自保持/复归时间2019/7/6 20:34:53
动作和释放时间或自保持/复归时间对于多组触点的电磁继电器,其触点动作时必须满足所有闭合触点断开前不应出现任何断开触点闭合的现象,如图1⒈31所示,电磁继电器正常吸合转换波形。FAN...[全文]
​绝缘表面电阻2019/7/6 20:05:53
绝缘表面电阻绝缘表面电阻按GB17,5―“规定的方法进行测试,试验设备包括试验箱如图11-20所示,FAN102MY应为一个矩形的玻璃或有机玻璃器皿,箱内的饱和硫酸钾水溶液能维持要...[全文]
绝缘电阻2019/7/5 20:46:58
绝缘电阻低频连接器通常在间距最近的接触件之间及连接器外壳与最靠近外壳的接触件之间进行测量。按照GJB1217A-20⒆方法300~s规定试验电压为500V±50V直流,时间为2mi...[全文]
 动作和释放时间或自保持/复归时间2019/7/5 20:43:19
动作和释放时间或自保持/复归时间触点负载为6~28V(直流最大值或交流峰值)、10flmA(最大值),线圈施加额定电压,额定用于低电平的继电器,触点负载为6V(直流最大值)、iOl...[全文]
静态接触电阻和接触压降2019/7/5 20:41:36
静态接触电阻和接触压降H5DU1262GTR-E3C继电器的触点接触电阻很低,一般为毫欧级别,测量过程中更容易引进附加的误差源,其中包括引线电阻、非欧姆接触及器件的加热问题。有GJ...[全文]
高速差分连接器2019/7/5 20:29:50
高速差分连接器H57V2562GTR-60C高速差分连接器的检验依据主要有以下标准:GJB―××××《电连接器数据传输性能测试方法(报批稿)》TIAJ/...[全文]
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